一般來說貼片電容的加速度實(shí)驗(yàn)是通過對電壓和溫度的加速來進(jìn)行的。并以實(shí)驗(yàn)中測定的溫度電壓等數(shù)據(jù)作為參數(shù)運(yùn)用下面的加速公式推算出產(chǎn)品在實(shí)際使用環(huán)境下的使用壽命。
下面的加速公式是基于阿列紐斯法，利用電壓加速系數(shù)（※1）及反應(yīng)活化能（※2）推算。



在此公式的基礎(chǔ)上，通過在更為嚴(yán)苛的條件(更高溫、更高電壓)下進(jìn)行加速試驗(yàn)，可推算出產(chǎn)品在實(shí)際使用環(huán)境下的使用壽命。

為了簡化計(jì)算我們也會通過如下的加速計(jì)算公式進(jìn)行計(jì)算。


在試驗(yàn)溫度為TA時(shí)的故障率是標(biāo)準(zhǔn)溫度TN時(shí)的故障率的1/2（或者是2 倍），我們將其溫度差θ（=TA-TN）稱作溫度加速系數(shù)。 我們把加載電壓固定，將溫度設(shè)為參數(shù)來進(jìn)行MlCC的試驗(yàn)樣本的壽命試驗(yàn)，把各個溫度條件下的試驗(yàn)結(jié)果（故障率）通過計(jì)算公式計(jì)算出溫度加速系數(shù)。


在此我們一起來比較一下貼片電容的加速試驗(yàn)與實(shí)際產(chǎn)品使用的假定環(huán)境。我們將貼片電容器的加速試驗(yàn)中將耐久試驗(yàn)時(shí)間視為LA，將實(shí)際使用環(huán)境下的相當(dāng)年數(shù)視為LN，用于上述公式。

耐久試驗(yàn)條件	假定使用環(huán)境	電壓加速系數(shù)	溫度加速系數(shù)	相應(yīng)年限
TA＝85°C VA＝20V LA＝1000h	TN＝65°C VN＝5V	n＝3	θ＝8	LN＝?h

這樣我們即可通過在85°C、施加20V電壓的環(huán)境下進(jìn)行了1000h的耐久試驗(yàn)，推算出在65°C、施加5V電壓的環(huán)境下產(chǎn)品使用年限為362039h（≒41年！）。計(jì)算中使用的電壓加速系數(shù)、溫度加速系數(shù)會由陶瓷材料的種類及構(gòu)造產(chǎn)生不同，但通過加速計(jì)算公式可在相對較短的時(shí)間內(nèi)利用試驗(yàn)結(jié)果來驗(yàn)證長時(shí)間的實(shí)際使用環(huán)境中的產(chǎn)品使用壽命。

※1 電壓加速系數(shù)的推算方法的相關(guān)說明

在推算貼片電容的產(chǎn)品壽命時(shí)，我們把實(shí)驗(yàn)溫度固定，將加載電壓設(shè)為參數(shù)來進(jìn)行MlCC的試驗(yàn)樣本的壽命試驗(yàn)。把各個加載電壓下的試驗(yàn)結(jié)果（平均壽命MTTF）通過韋伯分析方法近似推算加載電壓對數(shù)與平均壽命對數(shù)的斜率/并將其作為電壓加速系數(shù)。

※2 反應(yīng)活化能的推算方法的相關(guān)說明

和上述溫度加速系數(shù)的推算方法類似，我們把加載電壓固定，將實(shí)驗(yàn)溫度設(shè)為參數(shù)來進(jìn)行MlCC的試驗(yàn)樣本的壽命試驗(yàn)。把各個實(shí)驗(yàn)溫度下的試驗(yàn)結(jié)果（平均壽命MTTF）通過韋伯分析方法近似推算溫度（絕對溫度）的倒數(shù)與平均壽命對數(shù)的斜率，并將其作為反應(yīng)活化能。